原子力显微镜测试SiC外延片表面粗糙度

原子力显微镜测试SiC外延片表面粗糙度
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技术参数:

1) 最大扫描速率:100Hz/line

2)测试模式:接触模式、非接触模式、轻敲模式

3) 扫描范围:100*100*15 μm(X*Y*Z)

4) 最大共振频率:3Mhz

5) 镜头:10X,最大视野360*480 μm

6) 最大样品测试尺寸:200*200*20mm(X*Y*Z)